Résultats de la recherche - Óisín Owens

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    Atomic Force Microscopy (AFM) As a Surface Mapping Tool in Microorganisms Resistant Toward Antimicrobials: A Mini-Review par Zuzanna Grzeszczuk, Antoinette Rosillo, Óisín Owens, Sourav Bhattacharjee

    Publié 2020
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