Результаты поиска - Camila Vieira SILVA
- Отображение 1 - 1 результаты of 1
-
1
AmF/NaF/SnCl2 solution reduces in situ enamel erosion - profilometry and cross-sectional nanoindentation analysis по Thayanne Monteiro RAMOS-OLIVEIRA, Camila Vieira SILVA, Paula Mendes Acatauassu NUNES, Cecília Pedroso TURSSI, Peter RECHMANN, Patricia Moreira de FREITAS
Опубликовано 2017Шифр: Загрузка...Connect to this object online.
Местонахождение: Загрузка...