Zoekresultaten - Lee, Kong Chian
- Toon 1 - 1 resultaten van 1
-
1
Reliability Study of Lead Free Sn-3.8Ag-0.7Cu and Copper (Cu) Substrate based on the Microstructure, Physical and Mechanical Properties / Amares Singh...[et al.] door Singh, Amares, Durairaj, Rajkumar, Lee, Kong Chian, Sia, Yaw Yoong
Gepubliceerd in 2018Plaatsingsnummer: Wordt geladen…Link Metadata
Locatie: Wordt geladen…
Boek