Kamerabasierte In-situ-Überwachung gepulster Laserschweißprozesse

Spektrale Analysen liefern Informationen zur Auslegung eines kamerabasierten Überwachungssystems für gepulste Laserschweißprozesse. Aufbauend auf diesen prozessphysikalischen Erkenntnissen wird ein bildbasiertes, schwach-überwacht lernendes Klassifikationssystem zur industriellen Prozessüberwach...

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Bewaard in:
Bibliografische gegevens
Hoofdauteur: Dudeck, Sven Gerhard (auth)
Formaat: Elektronisch Hoofdstuk
Gepubliceerd in: KIT Scientific Publishing 2013
Reeks:Forschungsberichte aus der Industriellen Informationstechnik / Institut für Industrielle Informationstechnik (IIIT), Karlsruher Institut für Technologie
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