Regularisierung des Deflektometrieproblems - Grundlagen und Anwendung

Die Arbeit präsentiert zwei neuartige deflektometrische Verfahren, die jeweils unter Einbeziehung von Zusatzinformation eine eindeutige Lösung des mathematisch schlecht gestellten Rekonstruktionsproblems erlauben. Das erste der beiden stützt sich auf das bei vielen praxisrelevanten Bauteilen auft...

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Autore principale: Balzer, Jonathan (auth)
Natura: Elettronico Capitolo di libro
Pubblicazione: KIT Scientific Publishing 2008
Serie:Schriftenreihe Automatische Sichtprüfung und Bildauswertung
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Descrizione
Riassunto:Die Arbeit präsentiert zwei neuartige deflektometrische Verfahren, die jeweils unter Einbeziehung von Zusatzinformation eine eindeutige Lösung des mathematisch schlecht gestellten Rekonstruktionsproblems erlauben. Das erste der beiden stützt sich auf das bei vielen praxisrelevanten Bauteilen auftretende diffuse Reflexionsverhalten. Außerdem wird ein allgemeines Modell des spekularen optischen Flusses hergeleitet, der entsteht, wenn die gesuchte Fläche relativ zum Messaufbau bewegt wird.
Descrizione fisica:1 electronic resource (XII, 124 p. p.)
ISBN:KSP/1000007844
9783866442306
Accesso:Open Access