Regularisierung des Deflektometrieproblems - Grundlagen und Anwendung
Die Arbeit präsentiert zwei neuartige deflektometrische Verfahren, die jeweils unter Einbeziehung von Zusatzinformation eine eindeutige Lösung des mathematisch schlecht gestellten Rekonstruktionsproblems erlauben. Das erste der beiden stützt sich auf das bei vielen praxisrelevanten Bauteilen auft...
সংরক্ষণ করুন:
প্রধান লেখক: | Balzer, Jonathan (auth) |
---|---|
বিন্যাস: | বৈদ্যুতিক গ্রন্থের অধ্যায় |
প্রকাশিত: |
KIT Scientific Publishing
2008
|
মালা: | Schriftenreihe Automatische Sichtprüfung und Bildauswertung
|
বিষয়গুলি: | |
অনলাইন ব্যবহার করুন: | DOAB: download the publication DOAB: description of the publication |
ট্যাগগুলো: |
ট্যাগ যুক্ত করুন
কোনো ট্যাগ নেই, প্রথমজন হিসাবে ট্যাগ করুন!
|
অনুরূপ উপাদানগুলি
অনুরূপ উপাদানগুলি
-
Deflektometrie zur automatischen Sichtprüfung und Rekonstruktion spiegelnder Oberflächen
অনুযায়ী: Werling, Stefan Bruno
প্রকাশিত: (2011) -
Verfahren zur optischen 3D-Vermessung spiegelnder Oberflächen
অনুযায়ী: Horbach, Jan
প্রকাশিত: (2007) -
Effiziente Schätzung dichter Bewegungsvektorfelder unter Berücksichtigung der Epipolargeometrie zwischen unterschiedlichen Ansichten einer Szene
অনুযায়ী: Kitt, Bernd
প্রকাশিত: (2013) -
Methodische Produktplanung. Grundlagen, Systematik und Anwendung im Produktentstehungsprozess
অনুযায়ী: Seidel, Michael
প্রকাশিত: (2005) -
Entscheidungsunterstützte Methodik zur Produktkonzeptauswahl : Grundlagen, Systematik und exemplarische Anwendung
অনুযায়ী: Schubert, Peter
প্রকাশিত: (2015)