Chapter Opportunities of Scanning Probe Microscopy for Electrical, Mechanical and Electromechanical Research of Semiconductor Nanowires

In this chapter, three types of phenomena (electrical, mechanical, and electromechanical) that can be investigated in individual III-V semiconductor nanowires with scanning probe microscope are presented. Transport measurements in GaAs nanowires based on stable electric connection provided opportuni...

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ग्रंथसूची विवरण
मुख्य लेखक: Geydt, Pavel (auth)
अन्य लेखक: Dunaevskiy, M. S. (auth), Lähderanta, Erkki (auth)
स्वरूप: इलेक्ट्रोनिक पुस्तक अध्याय
भाषा:अंग्रेज़ी
प्रकाशित: InTechOpen 2017
विषय:
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