Breitbandige Frequenzweichen für die Parallelisierung von Millimeterwellen-Messtechnik
This work describes the novel use of broadband continuous diplexers that could be integrated into on-wafer probes to parallize millimeter wave on-wafer measurement equipment. A model-based method for the efficient design of diplexers with a large number of adjustable parameters allows the realizatio...
Bewaard in:
| Hoofdauteur: | |
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| Formaat: | Elektronisch Hoofdstuk |
| Gepubliceerd in: |
Karlsruhe
KIT Scientific Publishing
2021
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| Reeks: | Karlsruher Forschungsberichte aus dem Institut für Hochfrequenztechnik und Elektronik
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A1234.567 |
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