Ellipsometry Principles and Techniques for Materials Characterization

Ellipsometry is rapidly emerging as a popular solution addressed to new materials science challenges and technological pitfalls hindering its effective application on modern problems. Amid the nowadays active development of materials of top notch, ellipsometry is also evolving rapidly both in the ac...

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Autres auteurs: Wahaia, Faustino (Éditeur intellectuel)
Format: Électronique Chapitre de livre
Langue:anglais
Publié: IntechOpen 2017
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