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Ellipsometry Principles and Techniques for Materials Characterization

Ellipsometry is rapidly emerging as a popular solution addressed to new materials science challenges and technological pitfalls hindering its effective application on modern problems. Amid the nowadays active development of materials of top notch, ellipsometry is also evolving rapidly both in the ac...

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ग्रंथसूची विवरण
अन्य लेखक: Wahaia, Faustino (संपादक)
स्वरूप: इलेक्ट्रोनिक पुस्तक अध्याय
भाषा:अंग्रेज़ी
प्रकाशित: IntechOpen 2017
विषय:
Laser physics
polarization, growth mechanism, dusty plasma, classification, monitoring
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