Auswertung und Charakterisierung dreidimensionaler Messdaten technischer Oberflächen mit Riefentexturen

• Hoofdauteur: Xin, Binjian (auth)
• Formaat: Elektronisch Hoofdstuk
• Gepubliceerd in: KIT Scientific Publishing 2009
• Reeks: Schriftenreihe / Institut für Mess- und Regelungstechnik, Universität Karlsruhe (TH)
• Onderwerpen: Technology: general issues; Bildverarbeitung; Riefentextur; 3D-Oberflächendaten
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Die Oberflächenmesstechnik umfasst eine Menge von Informationen, die wertvoll für die Qualitätskontrolle sind. Für eine effiziente Auswertung ist es nötig, die Texturkomponenten zu zerlegen. Im Rahmen dieser Arbeit werden 3D-Oberflächendaten genutzt, die mit optischen Messgeräten erfasst wurd...