Auswertung und Charakterisierung dreidimensionaler Messdaten technischer Oberflächen mit Riefentexturen

Die Oberflächenmesstechnik umfasst eine Menge von Informationen, die wertvoll für die Qualitätskontrolle sind. Für eine effiziente Auswertung ist es nötig, die Texturkomponenten zu zerlegen. Im Rahmen dieser Arbeit werden 3D-Oberflächendaten genutzt, die mit optischen Messgeräten erfasst wurd...

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Bibliografische gegevens
Hoofdauteur: Xin, Binjian (auth)
Formaat: Elektronisch Hoofdstuk
Gepubliceerd in: KIT Scientific Publishing 2009
Reeks:Schriftenreihe / Institut für Mess- und Regelungstechnik, Universität Karlsruhe (TH)
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Omschrijving
Samenvatting:Die Oberflächenmesstechnik umfasst eine Menge von Informationen, die wertvoll für die Qualitätskontrolle sind. Für eine effiziente Auswertung ist es nötig, die Texturkomponenten zu zerlegen. Im Rahmen dieser Arbeit werden 3D-Oberflächendaten genutzt, die mit optischen Messgeräten erfasst wurden. Nach nötigen Vorverarbeitungen werden Ansätze zur Separation von Riefentexturen und eine geometrische Charakterisierung der Oberflächen auf der Basis der Separation vorgestellt.
Fysieke beschrijving:1 electronic resource (XVIII, 144 p. p.)
ISBN:KSP/1000010000
9783866443266
Toegang:Open Access