Elektrische Charakterisierung und Modellierung von metallischen Interkonnektoren (MIC) des SOFC-Stacks
In dieser Arbeit wurde der Effekt des metallischen Interkonnektors (MIC) auf die Leistungsdichte der anodengestützten Zelle (ASC) sowie die Wechselwirkung zwischen dem MIC und der Kathode (Cr-Vergiftung) untersucht. Durch die Separation der Elektrodenverluste wurden drei von der Geometrie verursach...
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| Tác giả chính: | |
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| Định dạng: | Điện tử Chương của sách |
| Được phát hành: |
KIT Scientific Publishing
2012
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| Loạt: | Schriften des Instituts für Werkstoffe der Elektrotechnik, Karlsruher Institut für Technologie / Institut für Werkstoffe der Elektrotechnik
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| Những chủ đề: | |
| Truy cập trực tuyến: | DOAB: download the publication DOAB: description of the publication |
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| Tóm tắt: | In dieser Arbeit wurde der Effekt des metallischen Interkonnektors (MIC) auf die Leistungsdichte der anodengestützten Zelle (ASC) sowie die Wechselwirkung zwischen dem MIC und der Kathode (Cr-Vergiftung) untersucht. Durch die Separation der Elektrodenverluste wurden drei von der Geometrie verursachte Verluste identifiziert und quantifiziert. Weiter konnte gezeigt werden, dass in Anwesenheit des MIC eine starke Degradation der Zellleistung durch Cr-Vergiftung der Kathoden-Elektrochemie stattfand. |
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| Mô tả vật lý: | 1 electronic resource (V, 166 p. p.) |
| số ISBN: | KSP/1000027170 9783866448339 |
| Truy cập: | Open Access |