Entwicklung eines Röntgenmikroskops für Photonenenergien von 15 keV bis 30 keV

In many research areas X-rays are used for analysis. In X-ray full field microscopy a high resolution is achievable independent of the source properties by using imaging lenses. With an objective lens with 100 mm focal length a theoretical resolution of 60nm is achievable at 30 keV. In Experiments a...

সম্পূর্ণ বিবরণ

সংরক্ষণ করুন:
গ্রন্থ-পঞ্জীর বিবরন
প্রধান লেখক: Marschall, Felix (auth)
বিন্যাস: বৈদ্যুতিক গ্রন্থের অধ্যায়
প্রকাশিত: KIT Scientific Publishing 2014
মালা:Schriften des Instituts für Mikrostrukturtechnik am Karlsruher Institut für Technologie / Hrsg.: Institut für Mikrostrukturtechnik
বিষয়গুলি:
অনলাইন ব্যবহার করুন:DOAB: download the publication
DOAB: description of the publication
ট্যাগগুলো: ট্যাগ যুক্ত করুন
কোনো ট্যাগ নেই, প্রথমজন হিসাবে ট্যাগ করুন!

আন্তর্জাল

DOAB: download the publication
DOAB: description of the publication

3rd Floor Main Library

হোল্ডিংসের বিবরণ 3rd Floor Main Library
ডাক সংখ্যা: A1234.567
প্রতিলিপি 1 লভ্য