X-ray optics made by X-ray lithography: Process optimization and quality control

Grating based X-ray phase contrast imaging sets out to overcome the limits of conventional X-ray imaging in the detection of subtle density differences and opens a way to characterize a sample's microstructure without the need for ultrahigh spatial resolution. The technique relies on grating st...

Полное описание

Сохранить в:
Библиографические подробности
Главный автор: Koch, Frieder Johannes (auth)
Формат: Электронный ресурс Глава книги
Язык:английский
Опубликовано: KIT Scientific Publishing 2017
Серии:Schriften des Instituts für Mikrostrukturtechnik am Karlsruher Institut für Technologie / Hrsg.: Institut für Mikrostrukturtechnik
Предметы:
Online-ссылка:DOAB: download the publication
DOAB: description of the publication
Метки: Добавить метку
Нет меток, Требуется 1-ая метка записи!