X-ray optics made by X-ray lithography: Process optimization and quality control

Grating based X-ray phase contrast imaging sets out to overcome the limits of conventional X-ray imaging in the detection of subtle density differences and opens a way to characterize a sample's microstructure without the need for ultrahigh spatial resolution. The technique relies on grating st...

সম্পূর্ণ বিবরণ

সংরক্ষণ করুন:
গ্রন্থ-পঞ্জীর বিবরন
প্রধান লেখক: Koch, Frieder Johannes (auth)
বিন্যাস: বৈদ্যুতিক গ্রন্থের অধ্যায়
ভাষা:ইংরেজি
প্রকাশিত: KIT Scientific Publishing 2017
মালা:Schriften des Instituts für Mikrostrukturtechnik am Karlsruher Institut für Technologie / Hrsg.: Institut für Mikrostrukturtechnik
বিষয়গুলি:
অনলাইন ব্যবহার করুন:DOAB: download the publication
DOAB: description of the publication
ট্যাগগুলো: ট্যাগ যুক্ত করুন
কোনো ট্যাগ নেই, প্রথমজন হিসাবে ট্যাগ করুন!