Atomic Force Microscopy Imaging, Measuring and Manipulating Surfaces at the Atomic Scale

With the advent of the atomic force microscope (AFM) came an extremely valuable analytical resource and technique useful for the qualitative and quantitative surface analysis with sub-nanometer resolution. In addition, samples studied with an AFM do not require any special pretreatments that may alt...

ver descrição completa

Na minha lista:
Detalhes bibliográficos
Outros Autores: Bellitto, Victor (Editor)
Formato: Recurso Electrónico Capítulo de Livro
Idioma:inglês
Publicado em: IntechOpen 2012
Assuntos:
Acesso em linha:DOAB: download the publication
DOAB: description of the publication
Tags: Adicionar Tag
Sem tags, seja o primeiro a adicionar uma tag!

Internet

DOAB: download the publication
DOAB: description of the publication

3rd Floor Main Library

Detalhes do Exemplar 3rd Floor Main Library
Área/Cota: A1234.567
Cód. Barras: 1 Disponível