Chapter MEMS Technologies Enabling the Future Wafer Test Systems

As the form factor of microelectronic systems and chips are continuing to shrink, the demand for increased connectivity and functionality shows an unabated rising trend. This is driving the evolution of technologies that requires 3D approaches for the integration of devices and system design. The 3D...

Πλήρης περιγραφή

Αποθηκεύτηκε σε:
Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Κύριος συγγραφέας: Tunaboylu, Bahadir (auth)
Άλλοι συγγραφείς: Soydan, Ali M. (auth)
Μορφή: Ηλεκτρονική πηγή Κεφάλαιο βιβλίου
Γλώσσα:Αγγλικά
Έκδοση: InTechOpen 2018
Θέματα:
Διαθέσιμο Online:DOAB: download the publication
DOAB: description of the publication
Ετικέτες: Προσθήκη ετικέτας
Δεν υπάρχουν, Καταχωρήστε ετικέτα πρώτοι!