Recent Developments in Atomic Force Microscopy and Raman Spectroscopy for Materials Characterization

This book contains chapters that describe advanced atomic force microscopy (AFM) modes and Raman spectroscopy. It also provides an in-depth understanding of advanced AFM modes and Raman spectroscopy for characterizing various materials. This volume is a useful resource for a wide range of readers, i...

Description complète

Enregistré dans:
Détails bibliographiques
Autres auteurs: Shakher Pathak, Chandra (Éditeur intellectuel), Kumar, Samir (Éditeur intellectuel)
Format: Électronique Chapitre de livre
Langue:anglais
Publié: IntechOpen 2022
Sujets:
Accès en ligne:DOAB: download the publication
DOAB: description of the publication
Tags: Ajouter un tag
Pas de tags, Soyez le premier à ajouter un tag!

Internet

DOAB: download the publication
DOAB: description of the publication

3rd Floor Main Library

Informations d'exemplaires de 3rd Floor Main Library
Cote: A1234.567
Exemplaire 1 Disponible