Recent Developments in Atomic Force Microscopy and Raman Spectroscopy for Materials Characterization

This book contains chapters that describe advanced atomic force microscopy (AFM) modes and Raman spectroscopy. It also provides an in-depth understanding of advanced AFM modes and Raman spectroscopy for characterizing various materials. This volume is a useful resource for a wide range of readers, i...

Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Weitere Verfasser: Shakher Pathak, Chandra (Herausgegeben von), Kumar, Samir (Herausgegeben von)
Format: Elektronisch Buchkapitel
Sprache:Englisch
Veröffentlicht: IntechOpen 2022
Schlagworte:
Online-Zugang:DOAB: download the publication
DOAB: description of the publication
Tags: Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!

Online

DOAB: download the publication
DOAB: description of the publication

3rd Floor Main Library

Bestandsangaben von 3rd Floor Main Library
Signatur: A1234.567
Exemplar 1 Verfügbar