Review for Retrospective Exposure Assessment Methods Used in Epidemiologic Cancer Risk Studies of Semiconductor Workers: Limitations and Recommendations
This article aims to provide a systematic review of the exposure assessment methods used to assign wafer fabrication (fab) workers in epidemiologic cohort studies of mortality from all causes and various cancers. Epidemiologic and exposure-assessment studies of silicon wafer fab operations in the se...
Zapisane w:
| 1. autor: | |
|---|---|
| Format: | Książka |
| Wydane: |
Elsevier,
2018-09-01T00:00:00Z.
|
| Hasła przedmiotowe: | |
| Dostęp online: | Connect to this object online. |
| Etykiety: |
Dodaj etykietę
Nie ma etykietki, Dołącz pierwszą etykiete!
|
Internet
Connect to this object online.3rd Floor Main Library
| Sygnatura: |
A1234.567 |
|---|---|
| Egzemplarz 1 | Dostępne |