Chapter MEMS Technologies Enabling the Future Wafer Test Systems

As the form factor of microelectronic systems and chips are continuing to shrink, the demand for increased connectivity and functionality shows an unabated rising trend. This is driving the evolution of technologies that requires 3D approaches for the integration of devices and system design. The 3D...

Ful tanımlama

Kaydedildi:
Detaylı Bibliyografya
Yazar: Tunaboylu, Bahadir (auth)
Diğer Yazarlar: Soydan, Ali M. (auth)
Materyal Türü: Elektronik Kitap Bölümü
Dil:İngilizce
Baskı/Yayın Bilgisi: InTechOpen 2018
Konular:
Online Erişim:OAPEN Library: download the publication
OAPEN Library: description of the publication
Etiketler: Etiketle
Etiket eklenmemiş, İlk siz ekleyin!

Internet

OAPEN Library: download the publication
OAPEN Library: description of the publication

3rd Floor Main Library

Detaylı Erişim Bilgileri 3rd Floor Main Library
Yer Numarası: A1234.567
Kopya Bilgisi 1 Kütüphanede