Negara, C. E. (2023). Abbildende Ellipsometrie mit Lichtwegumkehrung für die optische Charakterisierung von gekrümmten Oberflächen. KIT Scientific Publishing.
Chicago Style (17. basım) AtıfNegara, Christian Emanuel. Abbildende Ellipsometrie Mit Lichtwegumkehrung Für Die Optische Charakterisierung Von Gekrümmten Oberflächen. KIT Scientific Publishing, 2023.
MLA (9th ed.) AtıfNegara, Christian Emanuel. Abbildende Ellipsometrie Mit Lichtwegumkehrung Für Die Optische Charakterisierung Von Gekrümmten Oberflächen. KIT Scientific Publishing, 2023.
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