APA (7th ed.) Citation

Negara, C. E. (2023). Abbildende Ellipsometrie mit Lichtwegumkehrung für die optische Charakterisierung von gekrümmten Oberflächen. KIT Scientific Publishing.

Chicago Style (17th ed.) Citation

Negara, Christian Emanuel. Abbildende Ellipsometrie Mit Lichtwegumkehrung Für Die Optische Charakterisierung Von Gekrümmten Oberflächen. KIT Scientific Publishing, 2023.

MLA (9th ed.) Citation

Negara, Christian Emanuel. Abbildende Ellipsometrie Mit Lichtwegumkehrung Für Die Optische Charakterisierung Von Gekrümmten Oberflächen. KIT Scientific Publishing, 2023.

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