Negara, C. E. (2023). Abbildende Ellipsometrie mit Lichtwegumkehrung für die optische Charakterisierung von gekrümmten Oberflächen. KIT Scientific Publishing.
Dyfyniad Arddull ChicagoNegara, Christian Emanuel. Abbildende Ellipsometrie Mit Lichtwegumkehrung Für Die Optische Charakterisierung Von Gekrümmten Oberflächen. KIT Scientific Publishing, 2023.
Dyfyniad MLANegara, Christian Emanuel. Abbildende Ellipsometrie Mit Lichtwegumkehrung Für Die Optische Charakterisierung Von Gekrümmten Oberflächen. KIT Scientific Publishing, 2023.
Rhybudd: Mae'n bosib nad yw'r dyfyniadau hyn bob amser yn 100% cywir.