Abbildende Ellipsometrie mit Lichtwegumkehrung für die optische Charakterisierung von gekrümmten Oberflächen
Ellipsometry is a measuring method for surface characterization and thin-film measurement of flat surfaces using polarized light. However, a new measuring principle based on return-path ellipsometry and retroreflection enables the detection of free-form surfaces. This new measurement principle and r...
Сохранить в:
| Главный автор: | |
|---|---|
| Формат: | Электронный ресурс Глава книги |
| Опубликовано: |
KIT Scientific Publishing
2023
|
| Серии: | Schriftenreihe Automatische Sichtprüfung und Bildverarbeitung
6 |
| Предметы: | |
| Online-ссылка: | OAPEN Library: download the publication OAPEN Library: description of the publication |
| Метки: |
Добавить метку
Нет меток, Требуется 1-ая метка записи!
|
Internet
OAPEN Library: download the publicationOAPEN Library: description of the publication
3rd Floor Main Library
| Шифр: |
A1234.567 |
|---|---|
| Копировать 1 | Доступно |