Abbildende Ellipsometrie mit Lichtwegumkehrung für die optische Charakterisierung von gekrümmten Oberflächen
Ellipsometry is a measuring method for surface characterization and thin-film measurement of flat surfaces using polarized light. However, a new measuring principle based on return-path ellipsometry and retroreflection enables the detection of free-form surfaces. This new measurement principle and r...
I tiakina i:
Kaituhi matua: | Negara, Christian Emanuel (auth) |
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Hōputu: | Tāhiko Wāhanga pukapuka |
I whakaputaina: |
KIT Scientific Publishing
2023
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Rangatū: | Schriftenreihe Automatische Sichtprüfung und Bildverarbeitung
6 |
Ngā marau: | |
Urunga tuihono: | OAPEN Library: download the publication OAPEN Library: description of the publication |
Ngā Tūtohu: |
Tāpirihia he Tūtohu
Kāore He Tūtohu, Me noho koe te mea tuatahi ki te tūtohu i tēnei pūkete!
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Ngā tūemi rite
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Abbildende Ellipsometrie mit Lichtwegumkehrung für die optische Charakterisierung von gekrümmten Oberflächen
mā: Negara, Christian Emanuel
I whakaputaina: (2023) -
Interaktive 3D-Modellerfassung mittels One-Shot-Musterprojektion und Schneller Registrierung
mā: Gockel, Tilo
I whakaputaina: (2006) -
Spectroscopic ellipsometry of interfacial phase transitions in fluid metallic systems: KxKCl1-x and Ga1-xBix [online]
mā: Dogel, Stanislav
I whakaputaina: (2004) -
Entwicklung von Analysetechniken zur Optimierung der Morphologie organischer Solarzellen
mā: Klein, Michael
I whakaputaina: (2013) -
Auswertung und Charakterisierung dreidimensionaler Messdaten technischer Oberflächen mit Riefentexturen
mā: Xin, Binjian
I whakaputaina: (2009)