Abbildende Ellipsometrie mit Lichtwegumkehrung für die optische Charakterisierung von gekrümmten Oberflächen

Ellipsometry is a measuring method for surface characterization and thin-film measurement of flat surfaces using polarized light. However, a new measuring principle based on return-path ellipsometry and retroreflection enables the detection of free-form surfaces. This new measurement principle and r...

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Bibliografische gegevens
Hoofdauteur:	Negara, Christian Emanuel (auth)
Formaat:	Elektronisch Hoofdstuk
Gepubliceerd in:	KIT Scientific Publishing 2023
Reeks:	Schriftenreihe Automatische Sichtprüfung und Bildverarbeitung 6
Onderwerpen:	Maths for computer scientists imaging; retroreflection; curved surface; ellipsometry; bildgebend; Retroreflexion; gekrümmte Oberfläche; Ellipsometrie; metrology; Messtechnik
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Tags:	Voeg label toe Geen labels, Wees de eerste die dit record labelt!

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Abbildende Ellipsometrie mit Lichtwegumkehrung für die optische Charakterisierung von gekrümmten Oberflächen

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