Abbildende Ellipsometrie mit Lichtwegumkehrung für die optische Charakterisierung von gekrümmten Oberflächen

Ellipsometry is a measuring method for surface characterization and thin-film measurement of flat surfaces using polarized light. However, a new measuring principle based on return-path ellipsometry and retroreflection enables the detection of free-form surfaces. This new measurement principle and r...

Volledige beschrijving

Bewaard in:
Bibliografische gegevens
Hoofdauteur: Negara, Christian Emanuel (auth)
Formaat: Elektronisch Hoofdstuk
Gepubliceerd in: KIT Scientific Publishing 2023
Reeks:Schriftenreihe Automatische Sichtprüfung und Bildverarbeitung 6
Onderwerpen:
Online toegang:OAPEN Library: download the publication
OAPEN Library: description of the publication
Tags: Voeg label toe
Geen labels, Wees de eerste die dit record labelt!