Free space microwave characterization of silicon wafers for microelectronic applications / Zaiki Awang, Deepak Kumar Ghodgaonkar and Noor Hasimah Baba

A contactless and non-destructive microwave method has been developed to characterize silicon semiconductor wafers from reflection and transmission measurements made at normal incidence using MNDT. The measurement system consists of a pair of spot-focusing horn lens antenna, mode transitions, coaxia...

সম্পূর্ণ বিবরণ

সংরক্ষণ করুন:
গ্রন্থ-পঞ্জীর বিবরন
প্রধান লেখক: Awang, Zaiki (লেখক), Ghodgaonkar, Deepak Kumar (লেখক), Baba, Noor Hasimah (লেখক)
বিন্যাস: গ্রন্থ
প্রকাশিত: Institute of Research, Development and Commercialisation (IRDC), 2005.
বিষয়গুলি:
অনলাইন ব্যবহার করুন:Link Metadata
ট্যাগগুলো: ট্যাগ যুক্ত করুন
কোনো ট্যাগ নেই, প্রথমজন হিসাবে ট্যাগ করুন!

আন্তর্জাল

Link Metadata

3rd Floor Main Library

হোল্ডিংসের বিবরণ 3rd Floor Main Library
ডাক সংখ্যা: A1234.567
প্রতিলিপি 1 লভ্য