NBTI effects on circuit reliability performance of 4-bit Johnson counter based on different simulation configuration / M. F. Zainudin ...[et al.]

Negative-bias temperature instability (NBTI) has become a serious circuit reliability concern as technology nodes decrease to nanometer scales. This paper presents comprehensive analyses of the NBTI effect on 4-bit Johnson Counter with a 16- nm High Performance (HP) Predictive Technology Model (PTM)...

Täydet tiedot

Tallennettuna:
Bibliografiset tiedot
Päätekijät: Zainudin, M. F. (Tekijä), Hussin, H. (Tekijä), Karim, J. (Tekijä), Halim, A. K. (Tekijä)
Aineistotyyppi: Kirja
Julkaistu: UiTM Press, 2018-06.
Aiheet:
Linkit:Link Metadata
Tagit: Lisää tagi
Ei tageja, Lisää ensimmäinen tagi!

Samankaltaisia teoksia