NBTI effects on circuit reliability performance of 4-bit Johnson counter based on different simulation configuration / M. F. Zainudin ...[et al.]
Negative-bias temperature instability (NBTI) has become a serious circuit reliability concern as technology nodes decrease to nanometer scales. This paper presents comprehensive analyses of the NBTI effect on 4-bit Johnson Counter with a 16- nm High Performance (HP) Predictive Technology Model (PTM)...
Tallennettuna:
Päätekijät: | Zainudin, M. F. (Tekijä), Hussin, H. (Tekijä), Karim, J. (Tekijä), Halim, A. K. (Tekijä) |
---|---|
Aineistotyyppi: | Kirja |
Julkaistu: |
UiTM Press,
2018-06.
|
Aiheet: | |
Linkit: | Link Metadata |
Tagit: |
Lisää tagi
Ei tageja, Lisää ensimmäinen tagi!
|
Samankaltaisia teoksia
-
The importance of corporate image in the marketing of university postgraduate programs / Zainudin Awang.
Tekijä: Awang, Zainudin
Julkaistu: (2010) -
Performance analysis of SLA - QoS UPE Metro Ethernet / Akmarul Nizam Zainudin
Tekijä: Zainudin, Akmarul Nizam
Julkaistu: (2014) -
Interview for paradox of information / Nor Amirah Mohd Norroe and Nurul Adelina Zainudin
Tekijä: Mohd Norroe, Nor Amirah, et al.
Julkaistu: (2015) -
Evolution of information communication technology / Nor Amirah Mohd Norroe and Nurul Adelina Zainudin
Tekijä: Mohd Norroe, Nor Amirah, et al.
Julkaistu: (2015) -
Exploring Alternative Pathways to Target Bacterial Type II Topoisomerases Using NBTI Antibacterials: Beyond Halogen-Bonding Interactions
Tekijä: Maja Kokot, et al.
Julkaistu: (2023)