NBTI effects on circuit reliability performance of 4-bit Johnson counter based on different simulation configuration / M. F. Zainudin ...[et al.]

Negative-bias temperature instability (NBTI) has become a serious circuit reliability concern as technology nodes decrease to nanometer scales. This paper presents comprehensive analyses of the NBTI effect on 4-bit Johnson Counter with a 16- nm High Performance (HP) Predictive Technology Model (PTM)...

Volledige beschrijving

Bewaard in:
Bibliografische gegevens
Hoofdauteurs: Zainudin, M. F. (Auteur), Hussin, H. (Auteur), Karim, J. (Auteur), Halim, A. K. (Auteur)
Formaat: Boek
Gepubliceerd in: UiTM Press, 2018-06.
Onderwerpen:
Online toegang:Link Metadata
Tags: Voeg label toe
Geen labels, Wees de eerste die dit record labelt!

Gelijkaardige items