Abbildende Ellipsometrie mit Lichtwegumkehrung für die optische Charakterisierung von gekrümmten Oberflächen
Ellipsometry is a measuring method for surface characterization and thin-film measurement of flat surfaces using polarized light. However, a new measuring principle based on return-path ellipsometry and retroreflection enables the detection of free-form surfaces. This new measurement principle and r...
Furkejuvvon:
| Váldodahkki: | |
|---|---|
| Materiálatiipa: | Elektrovnnalaš Girjji oassi |
| Almmustuhtton: |
KIT Scientific Publishing
2023
|
| Ráidu: | Schriftenreihe Automatische Sichtprüfung und Bildverarbeitung
|
| Fáttát: | |
| Liŋkkat: | DOAB: download the publication DOAB: description of the publication |
| Fáddágilkorat: |
Lasit fáddágilkoriid
Eai fáddágilkorat, Lasit vuosttaš fáddágilkora!
|