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Abbildende Ellipsometrie mit Lichtwegumkehrung für die optische Charakterisierung von gekrümmten Oberflächen

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Ellipsometry is a measuring method for surface characterization and thin-film measurement of flat surfaces using polarized light. However, a new measuring principle based on return-path ellipsometry and retroreflection enables the detection of free-form surfaces. This new measurement principle and r...

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ग्रंथसूची विवरण
मुख्य लेखक: Negara, Christian Emanuel (auth)
स्वरूप: इलेक्ट्रोनिक पुस्तक अध्याय
प्रकाशित: KIT Scientific Publishing 2023
श्रृंखला:Schriftenreihe Automatische Sichtprüfung und Bildverarbeitung 6
विषय:
Maths for computer scientists
imaging; retroreflection; curved surface; ellipsometry; bildgebend; Retroreflexion; gekrümmte Oberfläche; Ellipsometrie; metrology; Messtechnik
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