Abbildende Ellipsometrie mit Lichtwegumkehrung für die optische Charakterisierung von gekrümmten Oberflächen
Ellipsometry is a measuring method for surface characterization and thin-film measurement of flat surfaces using polarized light. However, a new measuring principle based on return-path ellipsometry and retroreflection enables the detection of free-form surfaces. This new measurement principle and r...
Tallennettuna:
| Päätekijä: | |
|---|---|
| Aineistotyyppi: | Elektroninen Kirjan osa |
| Julkaistu: |
KIT Scientific Publishing
2023
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| Sarja: | Schriftenreihe Automatische Sichtprüfung und Bildverarbeitung
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| Aiheet: | |
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| Tagit: |
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